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设备详情信息

设备名称: 场发射高分辨透射电子显微镜

规格型号: 日本电子 F200

生产厂家: 日本电子

内容介绍:

性能指标:分辨率:0.10nmTEM模式时),0.14nm(STEM模式时)  加速电压:200KV80KV  放大倍数 20-2,000,000。

主要功能:可以进行样品的形貌分析、结构分析和成分分析。形貌分析:获得非晶材料的质厚衬度像,多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)。结构分析:电子衍射,原子位错,孪晶类型,晶界结构等研究。成分分析:小到纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。

样品要求:1.样品一般应为厚度小于100nm的固体。2.样品在电镜电磁场作用下不会被吸出,附于极靴上。3.样品在高真空中能保持稳定。4.不含水分或其他易挥发物,含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干。




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