分析测试中心Thermo Fisher Scientific Spectra 300双球差校正透射电镜现已完成安装调试，正式进入试运行阶段，面向校内用户开放使用。
Spectra 300 (S)TEM 是一款集双球差校正器（分别校正TEM和STEM模式的像差）、高亮度/高能量分辨率场发射电子枪（X-CFEG冷场发射枪）以及先进的多模态分析系统于一体的全能型原子尺度表征平台，适用于金属、半导体、催化、电池、陶瓷及纳米材料等多领域的原子级高分辨形貌观察和原子级成分分析，结合高灵敏度的能谱仪和能量损失谱仪(EELS)可以实现样品的快速的成分和价态分析，可得到高分辨率像(HRTEM)，单原子图像，HAADF(高角环形暗场)，EELS(电子能量损失谱), Mapping等，全面适配高水平科研需求。
本次试运行开放高分辨原子成像、HAADF-STEM原子像功能，后续中心还将陆续开放EDX、EELS分析及其他高端功能，最新动态请关注中心官网及公众号通知。试运行期间仅收试剂耗材等（如有）成本费用，欢迎全校师生预约使用！
仪器型号：Spectra 300
仪器厂家：Thermo Fisher Scientific
仪器位置：生材楼7108
联系方式：李迎，18351881365
电子邮件：liying@sxdx894.wecom.work
设备主要技术参数：
1.分辨率:
TEM 信息分辨率: 300kV，70pm；200kV，80pm；60kV，100pm。
STEM 分辨率：300kV，50pm；200kV，60pm；60kV，96pm。
能量分辨率：＜0.3eV @ 300kV。
2.加速电压
加速电压：60-300kV，加速电压全程范围内可自由切换。
3.电子枪及镜筒
电子枪类型：配备高亮冷场发射电子枪 (X-CFEG)
亮度：≥ 1x108 A/m2/sr/V*
束斑漂移≤0.5nm/min@300kV；
4.球差矫正器
聚光镜像差矫正器(用于提高 HR-STEM 分辨率)
物镜像差矫正器；(用于提高 HR-TEM 分辨率)
设备主要功能：
1.HRTEM：高分辨透射电子显微镜 (HRTEM) 模式利用球差的高分辨率能力，可以观察晶体内部的晶格条纹像、晶体缺陷等微观结构；
2.HAADF：通过收集高角度散射的电子成像，具有高衬度和高分辨率，特别适合观察重元素样品，例如金属和矿物；
3.EELS：电子能量损失谱 (EELS) 可以分析样品的化学信息，例如元素价态、成键类型、电子结构等，结合球差的高分辨率，还可以进行纳米尺度的化学分析；
4.MAPPING：对样品进行元素分布 Mapping 分析，可以获得样品中不同元素的空间分布信息，用于成分分析和材料表征；
5.IDPC：低剂量直接相位对比成像 (iDPC) 技术可以在低剂量条件下获得高对比度和高信噪比的图像，特别适合观察易受电子束损伤的样品，例如生物样品。
送样须知：
1. 样品要求：样品无磁性、无毒性、无挥发性、无放射性；厚度小于50纳米；保证样品表面干净，在电子束辐照下不产生积碳;
2. 送样前利用SEM或普通透射电镜对样品进行预检，确认样品适合双球差电镜表征；如无预检条件，可提前联系中心老师协助评估；
3. 所有样品测试前需提前报审，与实验老师探讨其上球差电镜的可行性。电镜日常工作电压为300KV，如果需要80KV或120KV电压下表征请在预约时与实验老师说明，为避免频繁切换电压，低电压模式将根据测试数量具体安排时间；
4. 为兼顾设备验证效率与广大师生的送样需求，试运行阶段单一样品的测试机时将作合理控制，请送样师生提前沟通测试重点；
5. 试运行以设备性能验证为主要目标，测试数据仅供课题组科研参考，正式开放后将提供更为完善的测试服务保障；
6. 不符合上述要求的样品，中心老师将与送样人沟通调整方案，必要时将暂缓测试或终止预约，以确保设备安全与测试质量；
7. 该电镜目前尚需厂家工程师不定时检查调试，开放测试时间段将适时调整；
试运行时间：
即日起至2026年7月31日。试运行结束后正式开放运行。
收费标准：
试运行期间测试免费，仅收取耗材费用（100元/铜网）；每周每课题组样品暂不超过2个，每个样品机时不超过3小时（若机时有空余，可适当增加）。
